射频微波芯片性能高速信号测试座

射频微波芯片性能高速信号测试座

支持频率信号 >94GHz

 适配封装BGA、QFN、LGA

适配引脚线距 0.35~1.27mm

快速交付

推荐应用如ATE设备

订货周期1-2周

高速信号弹针芯片测试座

低信号损耗，支持信号频率达到40GHz 

支持0.3mm的BGA/ QFN间距，芯片边长1~55mm

支持测试温度-35~125°C

 订货2-3周

侧孔式芯片高速BGA测试座

低信号损耗94GHz时为-1dB

适用封装 BGA、QFP

适用数据速率50Gbps

弹性体间距矩阵0.02mm

支持测试温度-55C至+160°C

支持引脚电流 5A

订货 4-6周

热增强型高性能QFN QFP35芯片测试座

适配QFN、QFP、DFN和SOIC

可用于开发、认证、高速老化、小批量生产用具

微信冲压触点，极短信号路径

去耦空间，允许在近器件位置放置无源器件

适用多个兼容接地触点，可降低接地电感

可更好触点组

订货周期 ： 4-6周