AMCOM的GaAs MMIC PAs系列产品推出最新EM封装 性能更好
发布时间:2018-08-27 11:37:58 浏览:1680
AMCOM的GaAs MMIC PAs系列产品,最近新出了EM 封装,是替代之前的FM封装的,预计未来一到两年后全部替换成EM, FM依然可以继续购买。 EM的性能更好,更有优势。
EM封装的设计图
注释:
1、零件/材料清单:
描述 |
材料 |
引线框架 |
铜 |
环框 |
氧化铝的类型1 每ASTM d2442 |
轮缘 |
CuW (75W;25Cu) |
1.1材料和/或制造过程的任何变更应以书面形式批准。
1.2所有装运货物的分析证明书应存档不少于三年。应按要求提供证书复印件。
2、要求:
3、
2.1镍板要求:
2.1.1镀层厚度:100微英寸最小氨基磺酸镍在区域-E的中心测量。
2.1.2镍厚度数据应保存在文件中,并根据客户要求提供信息。
2.2金板要求:
2.2.1镀金应符合MIL-STD-4204,第1类,III型的分类要求;在金矿床中,铊作为光亮剂或晶粒细化剂的使用是禁止的。
2.2.2金纯度分析证书应由供应商提供,以备不少于超过三年。应要求客户提供证书复印件。
2.2.3镀层厚度:最小50英寸,最小测量区域E--。
3、检验/试验:
3.1胶粘剂接头:
3.1.1键合界面为90%无空隙。
3.2.2在聚合物到法兰粘接接头中的空隙或不连续性是可接受的,规定包装通道具有泄漏一致性,MI-STD-883方法1014.10C。
3.2平坦度:
3.2.1区-E(交叉区域)为0.0010平。
3.3对齐:
3.3.1聚合物对法兰的角向排列,最大3°。
3.4热周期:
3.4.1镀金应在空气气氛中进行320°C±5°C,持续5分钟±30秒。经过热处理包装。
3.4.2引线拉力:引线在拉90°到环框平面时应承受最小0.66磅远离基准面。
3.4.3可焊性:引线应按MIL-STD750,方法2026可焊(省略除资格以外的蒸汽老化)。
3.5隔离泄漏应在法兰和引线之间的200 VDC处为1微安,并导致引线。
3.6引线框不能延伸到环框空腔边缘。
DAMAGE
PLATING
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